在精密光学领域，像差是影响系统性能的关键因素。从高端相机镜头到光刻机物镜，从医疗内窥镜到空间望远镜，光学系统中的任何微小缺陷，无论是透镜形状不规则、材料不均匀还是装配误差，都会导致波前畸变，最终影响成像质量和系统性能。

传统像差测量方法的核心痛点

• 环境要求苛刻：依赖严格隔振和恒温环境，无法在工业现场稳定工作。

• 操作复杂低效：需要专业人员长时间调试，单次测量耗时过长，难以实现实时监测。

• 性能与集成受限：空间分辨率不足，系统笨重且难以集成到生产线实现在线检测。

FIS4波前传感器：像差测量的技术革命

自2006年，浙江大学杨甬英教授团队利用四波前横向剪切干涉相位成像技术，历经17年潜心研发，推出宽光谱FIS4系列波前传感器（Wavefront Sensor），通过Zernike多项式对波前进行精准量化，为光学系统像差测量提供突破性解决方案。

✅ 全像差精准量化

•支持64项Zernike像差系数解析，精准量化球差、彗差、像散等复杂像差

•2nm RMS超高测量精度，捕捉最微小波前畸变

•实时显示波前图、PSF、MTF等多维度数据，直观呈现像差影响

✅ 卓越的环境适应性

•独创共路干涉设计，无需隔振平台即可稳定工作

•抗振动干扰，适应生产线等复杂工业环境

•在±2°C温度波动范围内保持测量稳定性

✅ 智能化操作体验

•一键式测量流程，大幅降低操作门槛

•自动识别像差类型和来源，智能指导问题定位

•实时数据反馈，支持快速迭代优化

✅ 全流程赋能与智能集成

•FIS4以纳米级实时波前解析能力，为光学系统提供全流程支撑。

•即插即用设计实现快速集成，完成设计至生产的闭环优化。

•无缝对接专业软件，实现光学系统全生命周期精密管控。

FIS4波前传感器（Wavefront Sensor）以纳米级精度、强环境适应性及智能像差分析能力，深度服务于光学的全生命周期——从设计研发、制造装调、质量认证到后期维护，为光学系统提供完整的像差测量方案。支持非接触式全场测量，可快速精准识别和量化各类像差，为光学系统设计、制造与维护提供可靠数据支撑，有效提升系统性能与质量。同时也是前沿科研与光学教育的强大工具。