‍射频/微波电子设备由导体、半导体和绝缘体组成，其中绝缘体的介电性质会影响穿过它们的电场。为了设计射频组件或器件，必须详细了解在组件/器件的构造中使用的绝缘体的介电性质。需要考虑的两个主要介电参数分别是介电常数和损耗角正切，或复介电常数的实部和虚部。

电介质是一种绝缘材料，当受到电场作用时会极化，这种现象称为电介质极化。尽管空间的磁导率通常呈静态（除了存在铁磁物体的情况外）；然而，空间的介电常数受材料填充的空间中的气体、液体和固体的影响很大。与磁导率一样，介电常数的影响取决于频率。因此在整个频率范围内测量复介电常数。

一、电介质测量注意事项

电介质实际大小/尺寸

是否可以作为样本进行测量？

1） 全样本

2） 薄样本

3） 超薄样本

4） 液体

5） 气体

测试是否必须是无损测试，或者可以是破坏性测试？

需要测量哪些频率？

1） 带状

2） 宽带

3） 窄带

4） 单频（谐振）

有哪些测量精度要求？

电介质的介电常数是高还是低？

电介质的损耗是高还是低？

由于电介质测量技术的带宽、几何形状、夹具、电介质感应范围和其它物理因素有限，因此出现了许多测量电介质的方法。使用的方法取决于接受研究的电介质以及带宽要求。对于全波场模拟器，获取从感兴趣的最低频率到最高频率的宽带介电性能可以提供帮助。

二、电介质的微波测量方法及应用频率

回音壁模式

这些方法中的许多方法都需要精密的传输线路，例如同轴组件、精密的同轴连接器、波导和平面传输线路，尤其是范围从几百兆赫兹到10万兆赫兹以上的方法。某些方法（例如微波或毫米波自由空间电介质测量）需要使用高度定向天线、同轴或波导互连以及矢量网络分析仪进行设置。